利用高频技术，由电子线路产生
一个小功率射频信号于探头上，探头作为敏感元件，将来自物
位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路于这些变化包括电
容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综
合变化信号,采用相位检测技术将这种变化检测出来，进行处理
后继电器的输出。它是在原电容测量的基础上改进为射频导纳
测量技术，代表了当今物位测量的新水平。
主要技术参数
一、整体型和分体型物位控制器
灵 敏 度：0.5-1000pf
延长时间：0-30s
介质压力：0-70kg/mз(根据不同温度确定)
介质温度：-40℃至+260℃(根据不同压力确定) |
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